Kautschuke

Kraftmikroskopische Untersuchungen inhomogener Elastomersysteme

28.April 2003 - Die vorliegende Arbeit handelt über den Einsatz der Rasterkraftmikroskopie (Atomic-Force-Microscopy, AFM) als Methode zur Untersuchung polymerer Oberflächen. Neben der herkömmlichen Methode, die Oberflächenrauhigkeit (Topographie) abzubilden, wird als ergänzende Information die Oberflächensteifigkeit als bildgebender Parameter genutzt. Mit Hilfe einer Modellvorstellung und daraus ableitbaren Gleichungen wird eine Bedingung für den optimalen Bildkontrast hergestellt. Die Auswirkungen der Einhaltung dieser Bedingung auf den Bildkontrast wird anhand einiger Beispiele experimentell bestätigt.

Atomic-Force-Microscopy for the Investigation of Inhomogenous Polymer-Systems
This work deals with the atomic force microscopy as a method for the investigation of polymer surfaces. Besides the ordinary method of imaging the roughness of the surface (topography) the stiffness of the surface, being a supplementary information, is used as a parameter for imaging. A condition for an optimized contrast is generated by the help of a model and the equations derived. The effect of the observance of this condition on the contrast of an image is verified experimentally for several examples.

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